【元耀新款】PCT高压蒸煮老化试验箱新款问鼎
PCT老化箱（又名PCT高压加速老化试验机）主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。
产品应用
广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。
PCT加速老化试验机产品特点：
1.具有自动加水功能并且在试验过程中水位过低时自动补水。
2.试验过程自动运转至完成结束，使用方便。
3.温度控制，LED数字型温度控制器可精确试验温度之设定，控制及显示。
4.计数器，LED数字型计时器，当锅内温度达到后计时器确保试验完全，
5.精准的压力，温度表随时显示锅内压力与温度，
6.一体矽胶门垫圈，气密性好，且使用寿命长
7.箱内经过抛光处理经久耐用、美观、不沾污。
8.运转时流水自动排出未饱和蒸汽已达到最佳蒸汽品质
9.具有自动泄压和手动泄压功能，设定试验需要的压力，当箱内压力超过所设定的压力值时自动向外排压，试验做完后，我们可以打开手动开关。
试验说明：
1.JESD22-A102-E：PCT高压蒸煮试验
2.JESD22-A102-D：PCT无偏压高压加速抗湿性试验
◎试验条件包括：温度，相对湿度，蒸汽压力和持续时间
◎常用测试条件：121℃±2/100%R.H/29.7psia（205kpa）/24h,48h,96h,168h,240h,336h
