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蒸汽老化试验箱

适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业、电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验
  • 老化试验箱系列 - 蒸汽老化试验箱
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应用:

适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业、电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验

特征:

  • 抽屉数量可定制,标准型号有3个或4个抽屉
  • 全SUS 304不锈钢
  • 数显控制器 或者可编程触摸屏可选
  • 配有全自动超温保护及器用水缺水空保护装置
型号 YSA-3 YSA-4 YSA-6
测试区尺寸 W×H×D(cm) 10×5.4×26 10×5.4×26 10×5.4×26
外箱尺寸 W×H×D(cm) 53×70.5×54.9 68×70.5×54.9 83×70.5×54.9
温度范围 室温+10℃~98℃
温度波动度 ±0.3℃
温度解析精度 ±0.1℃
升温时间 45 min
外箱材质 SUS#304不锈钢板
内箱材质 SUS#304不锈钢板
隔热材质 玻璃棉
加热系统 SUS#不锈钢高速加热器
控制系统 按键式数显控制器
安全装置 相序保护,超温保护,过载保护
电源 AC 1Ψ 220V 60/50Hz
定制服务 非特殊要求,可定制

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